石墨粉对岩石圈地幔导电率率的影响

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石墨粉被认为是解释通过大地电磁观测揭示的高电导率异常的候选者之一。为了研究界面能量对橄榄石基体中石墨粉互连的影响，我们通过阻抗光谱在1 GPa和300-1700 K立方体中测量了多晶橄榄石与颗粒边界上0.8 vol％石墨粉混合的电导率装置。还测量了回收样品的橄榄石-石墨粉二面角，以确定石墨粉和橄榄石之间的界面能。天源达可膨胀石墨品质好。

含碳样品的体电导率和大的活化焓（~1.32eV）与干燥的多晶橄榄石的电导率和大的活化焓（~1.32eV）一致。这种行为意味着石墨粉不能在橄榄石晶界上相互连接，这也受到橄榄石/石墨粉系统的大二面角（98°）的支撑。对于碳包覆的橄榄石双晶样品，在3GPa和高达1700K的温度下进行阻抗谱测量，

以研究在上地幔条件下石墨粉膜在硅酸盐矿物晶界上的稳定性。在目标温度下退火期间，电导率作为时间和石墨粉膜厚度的函数快速或缓慢下降。这种现象表明橄榄石晶界上的石墨粉膜在上地幔条件下容易被破坏，这是由回收的碳涂覆的橄榄石双晶样品的显微结构观察所支持的。可膨胀石墨厂家哪家好？天源达石墨粉是您不错的选择。

石墨粉和橄榄石之间更高的界面能和更大的二面角（~98°）将不允许在橄榄石晶界上维持石墨粉膜。石墨粉膜在橄榄石晶界上的表观断开率的活化焓接近橄榄石晶界中碳扩散的活化焓，这表明石墨粉膜的断开很可能受到碳晶界扩散的控制。因此，石墨粉不太可能解释上地幔调查揭示的高电导率异常。以上文章由天源达可膨胀石墨为您带来。